Książka = Book ; KS/3/2002/T30R10
Instytut Badań Systemowych. Polska Akademia Nauk ; Systems Research Institute. Polish Academy of Sciences
7-8, 133-144 stron ; 21 cm ; Bibliografia s. 157-160
Licencja Creative Commons Uznanie autorstwa 4.0
Zasób chroniony prawem autorskim. [CC BY 4.0 Międzynarodowe] Korzystanie dozwolone zgodnie z licencją Creative Commons Uznanie autorstwa 4.0, której pełne postanowienia dostępne są pod adresem: ; -
Instytut Badań Systemowych Polskiej Akademii Nauk
Biblioteka Instytutu Badań Systemowych PAN
Oct 20, 2021
Oct 20, 2021
34
https://rcin.org.pl/ibsys/publication/255935
Edition name | Date |
---|---|
KS-2002-03-T30R10 : Grabski Franciszek : Semi-markowskie modele niezawodności i eksploatacji * Losowa intensywność uszkodzeń | Oct 20, 2021 |
Grabski, Franciszek
Grabski, Franciszek
Grabski, Franciszek
Grabski, Franciszek
Grabski, Franciszek
Grabski, Franciszek
Grabski, Franciszek
Grabski, Franciszek