Digital Repository of Scientific Institutes

Skip to main menu
Skip to search engine
Skip to content
Skip to footer

Items per page:

add all to bibliography

of 3 Next

Badania nad złączami metal-szafir i szafir-lukalox = The study of metal-sapphire and metal-polycrystalline Al2)3 joints

Olesińska Wiesława

1974

Text

Analiza platyny i rodu za pomocą spektrometru masowego = Analysis of platinum and rhodium using a mass spectrometer

Patryas Z.

1975

Text

Monokryształy krzemu - ich własności oraz metody i urządzenia do ich wytwarzania = Silicon single crystals - properties, methods of crystalization and growing equipment

Jeske Witold

1974

Text

Niektóre problemy związane z jakością materiału wyjściowego w technologii krzemowych przyrządów półprzewodnikowych = Some problems of starting material quality in silicon devices technology

Pietras Edward

1975

Text

Wpływ wybranych zanieczyszczeń metalicznych na niektóre parametry elektryczne i perfekcję strukturalną krzemowych warstw epitaksjalnych = Influence of selected metallic contamination impurities on some electrical parameters and structural perfection of silicon epitaxial layers

Wiraszka Marek

1975

Text

Wpływ dodatku fosforu na niektóre własności fizykochemiczne i lutowwnicze eutektycznego stopu SnPb = The influence of phosphorus additive on chemical and physical properties and solderability of fin-lea eutectic alloy

Tomasik Edmund

1982

Text

Metody pomiaru parametrów aplikacyjnych past i warstw grubych. Cz. II = Measuring methods of application parameters of pastes and thick layers. Part II

Szymański Dariusz

1982

Text

Metody pomiaru parametrów aplikacyjnych past i warstw grubych. Cz. I = Measuring methods of application parameters of pastes and thick layers. Part I

Szymański Dariusz

1982

Text

Uniwersalny segregator do podziału na pięć grup dowolnych wielkości zmienionych na sygnał napięciowy = Universal sortes for distribution of voltages of groups of arbitury quantities unverted into a voltage signal

Kędra Jerzy

1979

Text

Interface typu IDV-4 do współpracy woltomierza V-530 z drukarką VA-G-24A = Interface IDV-4 for cooperation voltmeter V-530 with printer VA-G-24A

Kędra Jerzy

1979

Text

Zestaw zbiorczej cyfrowej rejestracji temperatury CRT-1 = Digital CRT-1 system of collective temperature recording

Kędra Jerzy

1979

Text

Automatyczny zestaw pomiarowy dla określania oporności właściwej metodą rozpływu oporności = Automatic measuring system for resistance determining by the spreading resistance method

Cybulski Piotr

1979

Text

Metody korekcyjne ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej pierwiastków lekkich = Correction methods in quantitative x-ray microanalysis of light elements

Kaczyński Łukasz

1983

Text

Termistorowy miernik temperatury

Wojtkowski Tadeusz

1979

Text

Urządzenie adaptujące wyniki pomiaru Halla do rejestratora X - Y = Device enduring the presentation of results of Hall parameters measurements using an X-Y recorder

Matusewicz Stefan

1979

Text

Problemy automatyzacji czynności pomiarowych w badaniach i technologiach występujących na terenie CNPME = Some aspects of automation of measurement in research and technologies during in the CNPMP = Some aspects of automation of measurements in research and technologies during in the CNPME

Cybulski Piotr

1979

Text

Metody pomiaru elektryzacji statycznej folii z tworzyw sztucznych = The methods of measuring of static electrization of plastic films

Cendrowski Sławomir

1980

Text

Defekty wzrostowe w kryształach granatu gadolinowo-galowego = Growth defects in single crystals of gadolinium gallium garnet

Naumowicz Piotr

1984

Text

Analiza własności mechanicznych materiałów ceramicznych metodami mechaniki pękania = Fracture mechanics analysis of mechanical properties of ceramic materials

Boniecki Marek

1984

Text

Syntezy wysokociśnieniowe kryształów o strukturze typu diamentu i ich struiktura atomowa w świetle badań rentgenowskich = High pressure synthesis of diamond type structure phase and their atomic structure

Badzian Andrzej

1984

Text

Odwzorowywanie dyslokacji w krzemowych warstwach epitaksjalnych metodami odbiciowymi rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej = The images of dislocations in silocon epitaxial layers obtained with help of X-ray diffraction topographic methods

Wierzchowski Wojciech

1984

Text

Fotometryczna metoda pomiaru naprężeń w materiałach półprzewodnikowych = Intensity method for stress measurement of semiconductors

Bajor Andrzej

1985

Text

Modelowanie procesu epitaksji z fazy gazowej = The modeling of the CVD epitaxial process

Korec Jacek

1985

Text

Zastosowanie spektrometru z rozbieżną wiązką promieniowania w badaniach widm rentgenowskich= Application of X-ray spectrometer with divergent beam in X-ray spectra study

Kłokocki Andrzej

1987

Text

Precyzja wyników mikroanalizy rentgenowskiej i metody jej podwyższenia = The X-ray microanalysis precision and methods of its improving

Stróż Kazimierz

1987

Text

1
2
of
3

This page uses 'cookies'. More information