Digital Repository of Scientific Institutes

Skip to main menu
Skip to search engine
Skip to content
Skip to footer

Items per page:

add all to bibliography

of 3 Next

X-ray microscopy

Richards, K. S. Myring, W. J.

1990

Journal/Article

An X-ray technique for ageing bank voles (Clethrionomys glareolus) using the first mandibular molar

Alibhai, S. K.

1980

Journal/Article

Rentgenostrukturalne badania mieliny ośrodkowej we wczesnym okresie encefalopatii cyjanowej

Sędzik, Jan

1977

Text

Rentgenowska metoda wyznaczania radialnego rozkładu gęstości atomowej w badaniach struktury węgli

Kaszkur, Zbigniew

1987

Book/Chapter

Zastosowanie spektrometru z rozbieżną wiązką promieniowania w badaniach widm rentgenowskich= Application of X-ray spectrometer with divergent beam in X-ray spectra study

Kłokocki Andrzej

1987

Text

Structure dynamics of heterogeneous catalyst based on noncrystalline gold in oxidation-reduction (REDOX) reaction

Zieliński, Maciej

2019

Text

Efekt kontaminacji w mikroanalizie rentgenowskiej =Effect of contamination on X-ray microanalysis

Kaczyński Łukasz

1990

Text

Ilościowa mikroanaliza rentgenowskaiwrwiastków lekkich. Porównanie wyników metod korekcyjnych = A quantitative x-ray microanalysis of lihgt elements. Comparison of methods

Kaczyński Łukasz

1988

Text

Podwyższenie wiarygodności rentgenograficznych badań materiałowych przez zastosowanie metody regulacji = On greater reliability of X-ray materials testing by application of regularization method

Frydrychowicz Jerzy

1987

Text

Nowa metoda identyfikacji typu dyslokacji na podstawie topografii rentgenowskiej Langa = A new identification method of the dislocation type based on the Lang topography

Majcher Krzysztof

1979

Book/Chapter

Metody korekcyjne ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej pierwiastków lekkich = Correction methods in quantitative x-ray microanalysis of light elements

Kaczyński Łukasz

1983

Text

Pomiar długozasięgowego odchylenia od płaskości powierzchni płytek Si za pomocą HR XRR = Measurement of long range surface flatness deviation of Siu wafers by means of HR XRR method

Mazur Krystyna

2008

Text

Rentgenodyfrakcyjna analiza odkształceń koherentnych w półprzewodnikowych strukturach warstwach AIIIBV. praca doktorska = X-ray diffractiometric analysis of coherence deformation in AIIIBV semiconductor layered structures

Sass Jerzy

1998

Book/Chapter

Precyzja wyników mikroanalizy rentgenowskiej i metody jej podwyższenia = The X-ray microanalysis precision and methods of its improving

Stróż Kazimierz

1987

Text

Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw = X-ray microanalysis of thin films

Sikorski Krzysztof

1983

Text

Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-raydiffraction topography Wojciech Wierzchowski, Agnieszka Malinowska, Krzysztof Wieteska, Edyta Wierzbicka, Krystyna Mazur, Maria Lefeld - Sosnowska, Marek Świrkowicz, Tadeusz Łukasiewicz.

Wierzchowski Wojciech

2016

Book/Chapter

Application of fluorescence correlation spectroscopy to biology and medicine: structural studies of the biological matter

Pilz, Marta

2021

Text

Badania rentgenostrukturalne nadchloranów organicznych kompleksów niklowych /

Lipkowska, Zofia

1975

Text

Investigation of the defect structure in the new types of undoped and Pr-doped scintillator single crystals of mixed lutetium-yttrium-aluminum garnets [LuxY1-x]Al5O12 (LuYAG)

Malinowska Agnieszka

2015

Text

Ośrodki produkcji mieczy antenowych w Polsce

Bugaj, Michał

2005

Journal/Article

Zastosowanie transmisyjnej topografii rentgenowskiej w nierównoległym układzie spektrometru dwukrystalicznego do badania homoepitaksjalnych warstw Si = Application of transmission X-ray topography in the non-parallel system of biocrystal spectrometer for homoepitaxial Si layers investigations

Sass Jerzy

1974

Text

O defektach sieci przestrzennej kryształów badanych metodami rentgenowskimi = Lattice defects studied by x-ray methods

Badzian Andrzej

1984

Text

Badanie adhezji warstw miedziowych metodą mikroanalizy rentgenowskiej = Investigations of copper films adhesion by x-ray microanalysis

Jakubowska Małgorzata

1993

Text

Metody ilościowej mikroanalizy rent5geowskiej cienkich warstw na podłożach = Correction methods in quantitative electron probe X-ray microanalysis of thin coatings

Sikorski Krzysztof

1987

Text

Rentgenograficzne badania półizolacyjnych monokryształów GaAs = X-ray investigation of semi-insulating GaAs single crystals

Wierzchowski Wojciech

1988

Text

1
2
of
3

This page uses 'cookies'. More information