Wojtas Jerzy ; Barszcz, Edward
35, [1] s. : il. 24 cm. ; Bibliogr. s. 35
ITME, sygn. dostępny ; click here to follow the link
Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms
Institute of Electronic Materials Technology
Library of the Electronic Materials Technology Institute
Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund
Oct 2, 2020
Sep 13, 2013
3753
https://rcin.org.pl/publication/18350
Edition name | Date |
---|---|
Paduch Józef, Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej w analitycznej mikroskopii elektronowej | Oct 2, 2020 |
Stróż Kazimierz
Kaczyński Łukasz
Sikorski Krzysztof
Sikorski Krzysztof