Obiekt

Tytuł: Pomiar koncentracji nośników większościowych w warstwach epitaksjalnych związków AIIIBV metodą napięcia przebicia = Measurement of the carrier concentration in epitaxial layers of III-V compounds by the breakdown voltage method

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

2020-10-02

Data dodania obiektu:

2012-08-06

Liczba wyświetleń treści obiektu:

336

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://rcin.org.pl/publication/12414

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

×

Cytowanie

Styl cytowania:

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji