Ocena jakości montażu diod laserowych na pasmo 808 nm poprzez pomiar rezystancji termicznej i charakterystyk spektralnych - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Przejdź do menu głównego
Przejdź do wyszukiwarki
Przejdź do treści
Przejdź do stopki

Ocena jakości montażu diod laserowych na pasmo 808 nm poprzez pomiar rezystancji termicznej i charakterystyk spektralnych

Pobierz

Tytuł: Ocena jakości montażu diod laserowych na pasmo 808 nm poprzez pomiar rezystancji termicznej i charakterystyk spektralnych

Twórca:

Dąbrowska Elżbieta

Data wydania/powstania:

Typ zasobu:

Inny tytuł:

Materiały Elektroniczne 2011 T.39 nr 3

Współtwórca:

Teodorczyk Marian ; Sobczak Grzegorz ; Maląg Andrzej

Wydawca:

Miejsce wydania:

Opis:

3-9 s. : il. 30 cm. ; Bibliogr. s. 9

Czasopismo/Seria/cykl:

Materiały Elektroniczne

Tom:

Zeszyt:

Strona pocz.:

Strona końc.:

Szczegółowy typ zasobu:

Format:

application/pdf

Identyfikator zasobu:

oai:rcin.org.pl:27752

Źródło:

ITME, sygn. dostępny ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

Prawa:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Zasady wykorzystania:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitalizacja:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Lokalizacja oryginału:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Dofinansowane ze środków:

Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Dostęp:

Temat i słowa kluczowe:

Materiały elektroniczne Elektronika - czasopismo - materiały dioda laserowa rezystancja termiczna charakterystyka spektralna

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

2 paź 2020

Data dodania obiektu:

14 maj 2013

Liczba pobrań / odtworzeń:

405

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://rcin.org.pl/publication/17048

Wyświetl opis w formacie RDF:

Wyświetl opis w formacie RDFa:

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

MATERIAŁY ELEKTRONICZNE

Nazwa wydania	Data
Dąbrowska Elżbieta, Ocena jakości montażu diod laserowych na pasmo 808 nm poprzez pomiar rezystancji termicznej i charakterystyk spektralnych	2 paź 2020

Obiekty Podobne

Badanie naprężeń wprowadzanych do diod laserowych podczas montażu za pomocą In oraz stopu eutektycznego AuSn Elżbieta Dąbrowska, Marian Teodorczyk, Grzegorz Sobczak, Andrzej Maląg.

Dąbrowska Elżbieta

2009

Tekst

Badania degradacji diod laserowych na pasmo 880 nm

Dąbrowska Elżbieta

2012

Tekst

Filtr telewizyjny pośredniej częstotliwości z akustyczną falą powierzchniową typu FTQ-384 do quasirównoległego odbioru fonii

Dąbrowska Elżbieta

1993

Tekst

Zmiana parametrów optycznych i elektrycznych diod laserowych na pasmo 808 nm i 880 nm w czasie długotrwałej pracy Elżbieta Dąbrowska, Marian Teodorczyk, Konrad Krzyżak, Magdalena Romaniec, Grzegorz Sobczak, Andrzej Maląg.

Dąbrowska Elżbieta

2014

Książka/Rozdział

Thermal residual stress state in laser diode/heatsink joint systems depending on the properties of the heatsink material. FEM analysis

Kaliński Dariusz

2002

Tekst

Dynamika nagrzewania obszaru aktywnego diod laserowych z symetryczną i asymetryczną heterostrukturą - porównanie metodą czasowo-rozdzielczej spektroskopii

Maląg Andrzej

2008

Tekst

Zagadnienia optymalizacji konstrukcji diod laserowych dużej mocy

Maląg Andrzej

2007

Tekst

Dynamika procesów cieplnych zachodzących w obszarze aktywnym liniowych matryc diod laserowych

Wróbel Sylwia

2000

Tekst

Więcej

Styl cytowania:

iso690-author-date apa modern-language-association chicago-author-date

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji