Materiały Elektroniczne 1986 nr 2(54)
Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
s. 13-20 : il. ; 24 cm. ; Bibliogr. s. 20
ITME, sygn. dostępny ; click here to follow the link
Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms
Institute of Electronic Materials Technology
Library of the Electronic Materials Technology Institute
Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund
Oct 2, 2020
Aug 6, 2012
427
https://rcin.org.pl/publication/12482
Edition name | Date |
---|---|
Jabłoński Ryszard, Badanie defektów typu 'antisite" w kryształach AIIIBV metodą EPR | Oct 2, 2020 |
Jabłoński Ryszard
Jabłoński Ryszard
Jabłoński Ryszard
Świderski Jarosław
Piga Witold
Żdanowicz Witold