Materiały Elektroniczne 1980 nr 1|(29)
Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
s. 7-21 : il. ; 24 cm. ; Bibliogr. s. 21
ITME, sygn. dostępny ; click here to follow the link
Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms
Institute of Electronic Materials Technology
Library of the Electronic Materials Technology Institute
Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund
Oct 2, 2020
Jan 8, 2013
485
https://rcin.org.pl/publication/11682
Edition name | Date |
---|---|
Roszkiewicz Krzysztof, Pomiar rozkładu fosforu w warstwach epitaksjalnych GaAs1-xPx w oparciu o efekt fotowoltaiczny | Oct 2, 2020 |
Toruń Jędrzej
Kamiński Paweł
Kot Waldemar
Wosik Jarosław
Rupniewski Wojciech
Brzozowski Waldemar