Obiekt

Tytuł: Evaluation of electrical properties of Eu and Pd-doped titanium dioxide thin films deposited on silicon

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

2020-10-02

Data dodania obiektu:

2012-07-10

Liczba wyświetleń treści obiektu:

299

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://rcin.org.pl/publication/16198

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

×

Cytowanie

Styl cytowania:

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji