Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych. Wyd.
Bibliogr. s.: 15-16 ; s.: 11-16, il. 30 cm.
15-16
Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych
Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego ; Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R
30 mar 2021
18 paź 2017
203
https://rcin.org.pl/publication/83005
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Jóźwik Iwona, Scanning electron microscope at low voltage operation - a unique characterization tool for graphene layers | 30 mar 2021 |
Jóźwik Iwona
Pietrzak Katarzyna
Stańczyk Beata
Podniesiński Dariusz
Stańczyk Beata
Strachowski Tomasz
Boniecki Marek